二手 PHILIPS / FEI 1076301 #293660714 待售
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PHILIPS/FEI 1076301掃描電子顯微鏡（SEM）是一種下一代工具，用於對高分辨率下的物理性質進行成像和分析。利用聚焦電子束，這個SEM能夠成像各種各樣的有機物和無機物。FEI 1076301配備了極高的空間分辨率，使用戶能夠以極高的精度分析微小特征。這是通過利用差分外腔（EC）和物鏡（OL）組合來達到高達512kV的功率來實現的。借助這種深度放大，SEM能夠將非常精細的細節分解到1納米的深度。它還配備了大視場（FOV）成像系統，即使拍攝SEM圖像也能提供廣泛的樣本覆蓋。這與通用的機動化階段一起,允許用戶快速掃描整個樣本,從而實現詳細的地形分析。PHILIPS 1076301還配備了強大的探測器陣列，可用於進行元素分析，如能量色散光譜（EDS）和電子反向散射衍射（EBSD）。1076301還得益於先進的自動化,允許無人值守的掃描和無人值守的分析。此功能消除了耗時繁瑣的樣品準備,簡化了成像過程。它還允許準確和一致的結果，因為執行分析時沒有任何人為錯誤。最後，PHILIPS/FEI 1076301配備了一套專有的軟件工具進行樣本處理，包括獨特的「鏡像」功能，它允許用戶控制電子束的對準，進一步提高分辨率。此外,包含的自動化套件允許用戶創建有關其示例特征的詳細報告、圖像註釋和其他信息。總體而言,FEI 1076301是一種可靠且功能強大的掃描電子顯微鏡,非常適合在廣泛的應用中對各種物理特性進行成像和分析。其卓越的高分辨率和全面的成像系統,以及一系列自動化功能,使其成為研究和工業應用的理想工具。
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