二手 PHILIPS / FEI 200 #293642983 待售

飛利浦/FEI 200掃描電子顯微鏡是一個世界領先的顯微鏡平臺，用於成像和表征廣泛的微觀和納米特征。它具有高分辨率，可以精確成像幾納米或更小的特征。由於具有高精度掃描功能,因此可以采用多種表征技術來放大FEI 200,000 x。PHILIPS 200配備了一個大腔室，允許樣品尺寸達到200 x 200毫米。一個大型的反向散射電子探測器（BSE）收集關於表面對比度、地形和元素組成的信息，而一個二次電子探測器（SE）可以用來捕捉高對比度圖像。FEI產生的2-5 kV光束源可用於提高分辨率,使樣品的內部微觀結構成像超出常規S/M顯微照片所能成像的範圍。它還與多種高分辨率低放大成像和斷層掃描技術兼容，如低真空掃描電子顯微鏡（LV-SEM）。200專門用於對包括有機材料、金屬和復合材料在內的各種樣品進行高分辨率成像。它的多功能性使得它非常適合成像和評估形狀和地形，以及表面粗糙度分析、粒子大小和具有hafnium互連的原子尺度成像。顯微鏡平臺獨特的示例階段功能提供了易於使用和自動化的過程。該階段可以配備手動和機動階段，允許精確的樣品位置控制以及自動成像和組成分析。提供各種自動化軟件和搜索算法，以方便樣品分析和自動化過程控制。FEI 200利用先進的納米焦點源,可將有效電子束尺寸減小10倍,並將成像範圍擴大到PHILIPS/FEI 200,000x之外,從而實現高度詳細的表面和內部結構成像。此外，對電子非彈性散射引入的畸變進行自動像差控制校正，提高了成像結果的準確性。總體而言，PHILIPS 200是一款前沿掃描電子顯微鏡，設計用於對各種樣品進行高分辨率成像和表征。該儀器具有狂熱的成像和分析功能以及廣泛的自動化功能,為材料表征和質量控制提供了可靠的平臺。