二手 PHILIPS / FEI Altura 830 #9329326 待售

PHILIPS/FEI Altura 830是專為先進冶金和納米級研究而設計的高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。此單元是世界上第一個真正的雙光束SEM,允許在材料表征方面實現更高的功能和精度。SEM配備高分辨率場發射槍（FEG）以增強成像能力，在1 kV加速電壓下圖像分辨率小於40 nm以獲得最佳精度表征。Altura真正的雙束能力允許多種成像技術，包括電子束（EBSD）、深層表面成像（DSI）和化學映射。在EBSD模式下，用戶可以快速準確地對各種材料的晶格進行成像，有助於識別不同的相位以及確定微觀結構的優選方向。Altura的化學映射模式分析曲面的元素組成以評估不同材料之間的界面，這是用於復合材料、陶瓷和多層MEMS中的詳細分析的特征。通過使用DSI，Altura提供了橫截面成像研究薄膜沈積和低k介電結構。FEI Altura 830還配備了最新的EDS探測器技術，能夠在不到一分鐘的時間內提供元素成分圖。探測器技術與SEM集成，為用戶提供實時分析。其微通道板（MCP）設計和集成的數字偏移校正軟件提供了卓越的性能，即使在納米尺度上進行各種分析。該探測器減少了負載和噪聲的影響，導致低檢測極限和更高的精度在跟蹤和次要元素分析。最後，PHILIPS Altura 830提供了豐富的編輯功能，使用戶可以改進圖像，輕松調節焦點和對比度，去除噪音，組合幀，調節亮度和色調。該信息顯示在顯示器上,因此用戶可以輕松地將圖像修改為所需的規格。綜上所述，Altura 830是專門為復雜冶金和納米級研究而設計的掃描電子顯微鏡。其先進的功能，如真正的雙光束能力、化學映射模式和EDS探測器技術，為用戶提供了前所未有的研究和分析精度和準確性。