二手 PHILIPS / FEI CM #9255393 待售

PHILIPS/FEI CM是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於成像和分析納米尺度的材料。由於其高分辨率和靈敏的檢測能力，可用於材料科學和半導體分析等多種應用。FEI CM由幾個元件組成，包括電子槍、樣品級、真空室和檢測器。電子槍發射電子束,然後集中在樣品上.樣品放置在由支撐樣品的平臺、電動舞臺和樣品支架組成的樣品階段。然後將樣品級連接到檢測器，檢測器通常是二次電子檢測器或反向散射電子檢測器。然後電子束與樣品相互作用，樣品的表面特征被檢測並投射到探測器上。然後將收集的數據發送到分析軟件並生成圖像。PHILIPS CM還具有一個真空室，用於從樣品和電子槍之間的空間清除任何空氣分子或其他汙染物。這允許更高分辨率的圖像，以及消除空氣分子對樣品造成的任何潛在損害。CM還提供了幾種高級功能，例如能夠改變電子束的能量，使用戶能夠分析一系列不同的材料。PHILIPS/FEI CM還具有收集元素信息以及執行各種表面分析任務的能力。總體而言，FEI CM是一種高度精密且用途廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠產生到納米尺度的極其詳細的材料圖像。其廣泛的特性使得它成為材料科學家、半導體制造商和研究人員的熱門選擇。