二手 PHILIPS / FEI CM10 #19746 待售

ID: 19746
優質的: 1992
Transmission electron microscope Lab 6 / W High contrast objective lens 200 Micron differential aperture Single tilt specimen holder 60° Rotation Currently crated High contrast and resolution: 20kV - 100kV 100kV 1992 vintage.
PHILIPS/FEI CM10掃描電子顯微鏡(SEM)是一款行業領先的冷凍掃描電子顯微鏡,設計用於細膩生物和無機樣品的低溫成像。它配備了一個創新的電子柱,旨在減少束損傷和減少漂移,同時成像易碎材料在低溫下。FEI CM10利用電動校正肖特基場發射槍(FEG)和新設計的電子柱來實現其行業領先的性能。FEG用於生成一個令人難以置信的尖銳電子束,提供盡可能高分辨率的圖像。專門設計的電子柱有助於減少漂移,甚至在低溫下保存最細膩的材料進行成像。FEG和電子柱的結合使得飛利浦CM 10成為需要分辨率和準確性的研究的理想選擇。加上極低的漂移,這種SEM非常適合涉及低溫下暴露的成像材料如低溫電子顯微鏡和光電子發射顯微鏡的應用。除了低溫成像,飛利浦CM10還具有獨特的數位成像功能。這些功能包括自動圖像采集工具集以快速準確地捕獲多焦點圖像,顏色對比度圖像處理套件以增強圖像,以及缺陷分析模塊以檢測圖像中的缺陷。這些特性結合起來,使CM 10能夠在低溫下提供精細樣品的高度詳細的圖像。最後,FEI CM 10通過其全自動、可編程的設置,使日常任務變得快速、輕松。可選的可變壓力級可快速成像可變壓力樣品,而集成的自動對準系統則允許用戶快速對準樣品並進行小調整。PHILIPS/FEI CM 10 SEM是低溫成像和數字圖像捕獲行業的領先者。將創新的FEG和電子柱與先進的數字成像功能相結合,CM10提供卓越的分辨率、準確性和低漂移性能。PHILIPS/FEI CM10是一種完全自動化且易於使用的功能強大的工具,可用於在低溫下對精細樣品進行成像,從而實現廣泛的研究應用。
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