二手 PHILIPS / FEI CM10 #293600948 待售

PHILIPS / FEI CM10
ID: 293600948
Transmission Electron Microscope (TEM).
PHILIPS/FEI CM10是一種高端掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於一系列科學研究和工業應用。這種先進的成像技術的特點是其令人印象深刻的分辨率和能夠捕捉樣品損傷程度極低的圖像。使用各種擴展成像模式,FEI CM10為用戶的成像任務提供了高度的多功能性。PHILIPS CM 10具有場發射電子源,與無場透鏡技術和自適應對比度補償一起,允許電子平穩移動而不會受到信號幹擾的風險。這加上多種光刻和探測器技術,使用戶能夠在納米級捕獲樣品的高分辨率圖像。FEI CM 10還具有強大的幾何校正系統,有助於減少由於樣品形狀和表面地形造成的誤差。這樣可以確保用顯微鏡拍攝的圖像具有均勻的聚焦和對比度。顯微鏡具有令人印象深刻的一系列特性和功能,如自動取樣、圖像失真校正和自動對比度優化。其內置的自動對焦功能還允許用戶在獲取圖像的同時進行頻繁調整。除了作為SEM的能力外,CM 10還配備了一系列先進模式,使其能夠作為SEM-FIB(場離子顯微鏡)、STM(掃描隧道顯微鏡)和EDX(能量色散X射線光譜)系統發揮作用。這些成像模式對於先進材料研究和半導體應用至關重要。CM10是一種用途廣泛、功能強大的儀器,可用於廣泛的科學和工業應用。憑借其卓越的分辨率、多功能性和智能成像模式,這個先進的系統可以釋放任何研究實驗室的潛力。
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