二手 PHILIPS / FEI CM10 #293770377 待售

PHILIPS/FEI CM10是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於小結構的高分辨率成像。它能夠對包括金屬、陶瓷和聚合物在內的各種材料和樣品進行培訓、成像和評估。顯微鏡是免提的，允許使用者專註於樣品而不是操縱它。SEM配備了20毫米二次電子探測器（SED）和1毫米級分辨率，提供高達93 nm的出色成像分辨率。SED和200 x至500 000 x的高放大倍率範圍相結合，擴大了儀器的能力，使其能夠精確成像和測量小的物理特征。FEI CM10在高真空（HV）和低真空（LV）模式下可操作,這意味著可以觀察到樣品幹燥或由於樣品烘烤而造成的細節損失最小。SED&LV模式的結合使得該儀器能夠使用一系列分析技術進行低溫研究，如能量色散X射線分析（EDXA）和電子能量損失光譜（EELS）。顯微鏡的先進軟件平臺提供了更好的用戶體驗,能夠快速、方便地設置程序,並且能夠保存、存儲和檢索數據。PHILIPS CM 10配備了充電補償設備,旨在降低樣品的充電效果。該系統通過使用鉬抑制柵格工作，該柵格中和樣品上的任何靜電荷，同時允許電子不受阻礙地通過。該單元確保樣品被精確測量，並將任何充電效果降至最低，從而產生可靠的成像過程和準確的結果。光子發射檢測器（，簡稱PED）是一種額外的測量能量色散X射線（EDX）光譜的機器。這個探測器在法拉第籠中使用了一個微通道板，對從標本發出的光子非常敏感。PED能夠測量濃度低至0.1%的微量元素。綜上所述，PHILIPS/FEI CM 10是一款高分辨率、免提掃描電子顯微鏡，專為小型結構的出色成像而設計。它能夠在HV和LV模式下運行，而額外的附件如鉬抑制柵格、PED和EDXA的組合允許進行廣泛的分析調查。此外，其高級軟件平臺允許用戶快速轉換數據並存儲相關圖像和文件。CM10是尋找高分辨率成像和分析能力的任何研究實驗室的絕佳選擇。