二手 PHILIPS / FEI CM10 #9298539 待售

PHILIPS/FEI CM10是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於在高放大倍率下觀察樣品的各種物理和形態特征。FEI CM10構建在耐用、低振動的平臺上，適合研究和工業應用。PHILIPS CM 10由高性能矽漂移探測器（SDD）提供動力，在高放大倍率下捕獲樣品的詳細圖像。最大放大倍率高達250,000X,顯示分辨率為3nm。SDD還使SEM能夠精確檢測多達40個元素,使其成為分析樣品化學成分的絕佳工具。飛利浦CM10提供多種觀測模式，包括二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BEI）和電子反向散射衍射（EBSD）。SEI允許用戶在標本表面上捕捉精細細節的圖像，而BEI允許他們查看構圖和微觀結構特征。EBSD模式可用於分析晶體樣品，觀察晶粒取向和微觀結構特征。CM 10還具有高精度掃描階段，允許它在X、Y、Z方向掃描樣品。這個掃描階段的速度高達2mm/sec，與各種附件如樣品支架和檢測器兼容。此外，它還具有用於特定應用的專門功能，包括用於原位加熱、電氣監測、離子成像和磁性樣品成像的功能。FEI CM 10提供了易於使用的圖形用戶界面（GUI），使學習和操作變得直觀。此SEM還具有一系列高級成像和分析程序,允許用戶增強其分析功能。它具有出色的信噪比,即使在低放大倍率下也能確保高質量的成像。簡言之，CM10是廣泛應用的理想工具，從基礎研究到工業分析。它提供了卓越的成像質量，一系列的觀測模式，以及各種特點，以增強分析能力。