二手 PHILIPS / FEI CM10 #9358402 待售

PHILIPS/FEI CM10是為高級材料表征而設計的高質量掃描電子顯微鏡（SEM）。這臺顯微鏡采用電子槍和高分辨率、高效成像探測器的獨特組合，提供高分辨率圖像的驚艷電影視角。FEI CM10提供了一個完全集成的自動化設計,並包括用於快速圖像捕獲的分數秒響應時間。它還具有納米精密濺射源，可以控制材料在樣品上的沈積，以便進行高級材料分析。它提供了高速掃描引擎，可以達到比競爭對手快12.5倍的速度，並且可以通過相差成像達到高達28納米的分辨率。此外，PHILIPS CM 10專為高級材料表征而設計，可以檢測和識別尺寸從0.1到100納米不等的粒子。這允許改進粒子分析和成像能力，包括組成成像、X射線元素光譜和全場電子衍射。此外，這種顯微鏡具有廣泛的探測器，包括二次電子探測器、透射束探測器、反向散射電子探測器、微通道板和鏡頭內探測器。這使得研究人員能夠捕捉到詳細的圖像，並對各類材料的表面結構進行增強的化學分析。最後,PHILIPS/FEI CM 10能夠捕獲4K分辨率圖像和視頻以進行高級鑒定。此外，其高性能軟件允許精密的自動化、數據處理和圖像分析，使其成為工業和學術研究的理想儀器。