二手 PHILIPS / FEI CM100 #293587495 待售

PHILIPS/FEI CM100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），在一系列科學或工業應用中為樣品提供高分辨率成像和分析。它使用電子束激發樣品，然後檢測得到的二次電子，並用於構建樣品的圖像。此SEM配備了許多功能,使其非常適合一系列應用程序。FEI CM100使用冷場發射槍產生電子束，提供高達0.8 nm的出色空間分辨率。設備還配備了高壓電源，使廣泛的工作電壓可用於樣品分析和成像。這個SEM還配備了電子束感應電流（EBIC）探測器，允許半導體和絕緣材料的成像，而無需光激發和相關的噪聲。PHILIPS CM100能夠進行高分辨率元素微觀分析,提供卓越的深度和組成信息。該系統同時配備了BSE檢測器和二次電子檢測器，可用於識別樣品的表面和元素組成。EBIC檢測器可以進一步啟用p-n結的成像，提供功率電路和其他半導體器件的結構和組成的定量分析。CM100還配備了能量色散X射線光譜儀（EDS），使樣品成像得到詳細元素圖的補充。二級和反向散射電子探測器與EDS的結合有助於快速識別樣品的特征和潛在缺陷，有助於加快分析和評估過程。PHILIPS/FEI CM100還提供一系列高級成像模式,包括SEM和STEM成像。這樣就可以對樣品進行高分辨率成像，而無需額外的樣品制備。該單元還能夠自動進行舞臺移動，從而能夠快速獲得和分析大面積圖像。FEI CM100是一種先進的掃描電子顯微鏡，特別適合研究和工業應用。機器的各種特性使其非常適合材料的評估和分析，以及半導體和其他器件結構的成像。PHILIPS CM100具有多種探測器、成像和分析模式,提供無與倫比的成像和分析功能。