二手 PHILIPS / FEI CM100 #293616767 待售

PHILIPS/FEI CM100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於產生各種樣品的高分辨率圖像，允許對樣品的特征進行視覺和定量分析。SEM是一種利用聚焦電子束檢查樣品表面的電子顯微鏡。當電子與樣品相互作用時，它們產生放大的圖像，可以在觀察屏幕上觀察到。FEI CM100具有廣泛的成像和分析技術，可根據應用和樣品類型加以應用。例如，SEM能夠進行反向散射成像、二次電子成像和組成分析。反向散射成像用於查看樣品的表面特征。二次電子成像可用於獲取有關內部結構和組成的信息。利用成分分析對樣品的材料成分進行調查，以確定其性質。PHILIPS CM100 SEM還提供了各種自動化系統，這些系統能夠優化顯微鏡參數，以獲得每種樣品類型的最佳結果。這包括自動調諧和精確的舞臺控制,以平滑移動.除此之外，SEM還具有精確的隔振和外部氣體處理選項，允許廣泛的應用。除此之外,CM100 SEM還提供了一系列編輯和分析功能,允許用戶註釋、縮放和測量圖像上的特征,以及執行諸如仲裁區域分析、線條厚度和大膽度測量以及其他信息提取任務等分析。它還允許直接導出到文件格式,如TIFF、JPG和PNG,以便進一步分析。總體而言，PHILIPS/FEI CM100 SEM是一種可靠、堅固且適應性強的顯微鏡，能夠產生高分辨率圖像和對各種樣品進行全面分析。它的自動化系統和詳細的成像功能使其非常適合任何需要高質量圖像和詳細分析的應用程序。