二手 PHILIPS / FEI CM100 #293646003 待售

PHILIPS/FEI CM100是一種功能強大的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供各種樣品的精確圖像。它配備了肖特基場發射槍（FE）源、二次電子探測器、X射線探測器和STEM探測器。在成像、分析測量和晶體學制圖方面,FEI CM100提供了高性能和靈活性。該設備分辨率為3 nm,具有可調的0.7至30 kV加速電壓,允許對一系列樣品進行成像。該系統還實現了亞納米分辨率和16位動態範圍，有效地解決了樣品特征和樣品中潛在的原子排列。該裝置兼具肖特基場發射（FEI）和熱場發射槍（TFE）源。肖特基光源提供只有0.15nA的低電流，並允許非常精確的光束控制。反過來，熱源提供了高達20nA的更高電流，以提供更快的成像速度。這兩個源都可以傳播到30 kV，確保了廣泛的可能動能範圍，可以進行即時調整，而不必重新調整束能量。飛利浦CM100可以配備一系列探測器，包括二次電子探測器、X射線探測器和STEM探測器。二次電子探測器提供樣品最上層原子層的圖像；X射線探測器提供樣品元素分布的圖像；STEM探測器可以提供單個原子的圖像。CM100還提供電流、電壓和電位等電極信號的分析。顯微鏡帶有一個生產級軟件包，允許用戶存儲信息和圖像以生成結果供以後分析。此外,該機器還提供自動化解決方案,以便可以重復進行成像或分析測量,從而提高樣品吞吐量。綜上所述，PHILIPS/FEI CM100是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠以亞納米分辨率和高精度成像各種樣品。其可調的加速電壓、肖特基和熱FE源，以及檢測器的範圍使其具有靈活性，使其能夠快速方便地提供成像和分析結果。