二手 PHILIPS / FEI CM100 #293659026 待售

PHILIPS/FEI CM100掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於研究和工業應用的高度先進的成像儀器。這種功能強大的儀器具有大型的場發射電子柱和現代化的圖像捕捉設備。FEI CM100 SEM使用低壓場發射槍（FEG）操作。它產生高度聚焦的低能電子束，被引導到樣品的內表面。電子與材料相互作用，產生由表面輪廓、組成和結構決定的各種信號。這種相互作用被放大，然後由電子探測器收集，用來創建二維圖像。PHILIPS CM100的放大容量從30,000X到400,000X不等,無需犧牲集成15kV-acceleration電壓即可實現。這款SEM還配備了高分辨率成像系統，經過優化，可提供超音速光加速器對，以提高分辨率。CM100 SEM具有多種分析能力，是高精度分析研究的絕佳選擇。這些功能包括自動化的基於圖像的元素分析、晶體結構分析和相差成像。PHILIPS/FEI CM100還設計用於自動操作，具有電動X-Y級、自動樣品交換和集成的10位樣品支架。除了成像能力外，FEI CM100 SEM還配備了一系列高級功能。其中包括低噪聲、抖動檢測單元、啟用信號的離子檢測器，以及具有各種濾波器選項的先進成像機。PHILIPS CM100還擁有一個全面的用戶控制面板,可快速訪問各種設置和用戶定義的參數。CM100掃描電子顯微鏡是尋求先進成像儀器的理想選擇，能夠對各種自然樣品和加工樣品進行精密分析。這一高度先進的SEM包含了一系列令人印象深刻的功能,使研究人員和工業工人能夠以與競爭模型相比成本的一小部分獲得詳細而準確的圖像。