二手 PHILIPS / FEI CM12 #293616770 待售

PHILIPS/FEI CM12掃描電子顯微鏡（SEM）是一種設計用於提供高分辨率成像和元素分析的高性能分析儀器。它具有一個大腔室，支持各種基板、樣本量和真空要求，允許廣泛的成像和光譜應用。FEI CM12 SEM配備自動控制柱和電子槍.該槍用於產生電子束，然後以一定角度將電子束對準樣品。這允許用戶測量樣品以各種角度反射的電子量，產生一個可以用於進一步分析的表面圖像。PHILIPS CM 12 SEM還提供多種成像技術，包括反向散射電子（BSE）、二次電子（SE）和反向散射SE成像。這些技術提供了大大增強的圖像分辨率，使用戶能夠更準確地觀察細微的細節，研究樣品表面的小顆粒。對於更高分辨率的成像，PHILIPS CM12 SEM配備了先進的能量色散X射線光譜（EDX）系統。這允許用戶測量樣品發射的單個X射線光子與樣品中電子相互作用的能級，從而可以對表面進行元素分析。此外,CM12還擁有自動化的舞臺和自動化的樣品處理系統,可實現自動化的樣品定位和導航。最後,用戶界面使FEI CM 12易於操作,並提供了一系列高級分析工具。用戶界面還包括一種基於理論的方法，幫助用戶快速理解與電子顯微鏡相關的概念。PHILIPS/FEI CM 12 SEM是一種先進的掃描電子顯微鏡，具有高分辨率的成像和元素分析性能。它配備了自動控制的立柱和電子槍，以及自動化的樣品處理和定位。用戶界面易於使用,使CM 12成為一種強大而有效的成像和分析工具。