二手 PHILIPS / FEI CM12 #293649963 待售

PHILIPS/FEI CM12掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的設備，用於獲取納米級樣品的高分辨率圖像。該系統是目前市場上最強大的掃描電子顯微鏡之一，因為它具有幾個精確的功能，可以提供卓越的成像和分析能力。FEI CM12配備了一個先進的電子光學單元，其放大倍率範圍可達100,000X。這種顯微鏡具有創新的磁束偏轉技術，可以精確、高度加速地控制圖像的光斑大小和形狀。這種精確控制對於獲得精確、高度詳細的納米尺度圖像非常重要。此外，PHILIPS CM 12具有二次電子、反向散射電子和X射線探測器的精密機器，以及有助於提高成像速度的高速成像方法。該顯微鏡還包含一個獨特的前置放大面板，與其他SEM相比，它提供了改進的信噪比和降低噪聲水平。此外，CM12還配備了廣泛的分析技術，如能量色散X射線分析（EDXA）、電子反向散射衍射（EBSD）、電荷耦合器件（CCD）成像。利用這些技術，用戶可以識別、測量和分析範圍廣泛的材料，從無機到有機。FEI CM 12的設計具有一系列先進的安全功能，包括一個在操作過程中保持高真空水平的整體真空工具，以及一個檢測物體或太靠近真空室的人的防撞探測器。這有助於降低顯微鏡和樣品受損的風險。PHILIPS/FEI CM 12的視覺資產也非常復雜,具有先進的圖像更改、分析和註釋系統。這允許用戶精確調整圖像並詳細分析樣本。總體而言,PHILIPS CM12掃描電子顯微鏡是一種先進的成像技術,在放大範圍、成像速度和分析能力方面提供卓越的性能。其安全特性使其成為廣泛納米結構成像和分析應用的理想選擇。