二手 PHILIPS / FEI CM12 #9090827 待售

PHILIPS/FEI CM12掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能成像設備，可以讓用戶以高放大率和高分辨率觀察和分析材料的表面成分。SEM為各種研究和工業應用提供了廣泛的功能,包括樣品檢查和深入的材料分析。FEI CM12利用電子束以多種方式創建樣品的圖像，如生成二次電子（SEs）、反向散射電子（BSEs）和反射電子。這些圖像提供了關於表面的物理和化學性質的準確和詳細的信息，甚至提供了用光學顯微鏡無法觀察到的小特征。PHILIPS CM 12提供了一個大幅面的數字成像平臺，帶有一個額外的大腔室，以及用於大樣本觀測的平鋪能力。大腔室允許用戶以高分辨率可視化更大的區域，而拼貼能力使得它成為宏觀和微觀樣本映射的理想選擇。CM 12還提供了自動圖像縫合和縮放工具,可用於將多個圖像組合為一個無縫圖像。此功能對於深入分析大型樣品特別有用,因為它消除了手工縫制樣品所需的時間和工作量。SEM還可用於通過能量色散X射線光譜（EDS）檢測和繪制樣品上的表面元素。此技術允許用戶以高精度識別和測量樣品中元素的痕量。EDS系統配備了一個內置軟件，提供數種用於定量和定性分析的高級功能，能夠執行更加復雜的分析和數據處理。PHILIPS CM12在二次電子模式下提供高達1.2 nm/pixel的最高分辨率,在反射電子模式下提供0.63 nm/pixel的最高分辨率。SE探測器通過低壓模式和專用探測器陣列進一步增強,可用於各種應用。此SEM系統易於使用,並以出色的客戶服務和培訓支持為後盾,提供可靠可靠的性能。無論您是研發實驗室、質量保證部門還是工業工藝系列,PHILIPS/FEI CM 12掃描電子顯微鏡都可以幫助您深入了解材料的成分,從而實現更好的產品性能和成本節約。