二手 PHILIPS / FEI CM12 #9284248 待售
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ID: 9284248
Scanning Electron Microscope (SEM)
With GATAN Ultrascan 4000 Oneview camera
Thermionic electron
Image resolution:
Point to point: ≤0.34nm
Line to line: 0.2nm
Transmission (TEM)
Scanning transmission (STEM)
Selected area diffraction (SAD)
Micro-diffraction (μD)
Convergent beam electron diffraction (CBED)
Bright field
X-Ray Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Elemental spectra
Map
Transect profile data
Modes:
Dark field operating
Standard TEM
Scanning
Powerful pre optimized recording
16 Megapixel CMOS sensor:
Sensitivity
Speed
LaB6
OneView camera excels
Unparalleled 25 fps
Real time drift correction
Dynamic range extension
Focused beam with high current
Density small diameter
EDS X-ray micro analysis
Spatial resolution micro analysis
Bulk (about 0.5 -3 microns)
STEM wide range:
Imaging
Analytical capabilities
EDS System
Dynamic processes with
N-Situ electron microscopy
4096 x 4096 Ppixels 25 fps
512 x 512 Pixels over 300 fps
25 Frames per second
4000 x 4000 Resolution
16 pixel CMOS Sensor
Magnification range: 31x to 660000x
Thermionic electron source
Selectable beam acceleration voltage 20kV -120kV.
PHILIPS/FEI CM12是一種具有卓越結構分辨率和高性能成像能力的像差校正掃描電子顯微鏡（SEM）。它是全球高端電子顯微鏡系統領導者FEI制造的頂級掃描電子顯微鏡。FEI CM12的尖端設計采用透鏡內電子光學系統,可實現強大的像差校正,從而大大改善成像性能,優於傳統的掃描顯微鏡,並提高了樣品處理能力。低加速電壓意味著低能電子被用於成像，從而提高了對比度和二次電子產率，從而提高了成像效率。該電子顯微鏡采用先進的光束成形技術，如電子透鏡像差校正和先進的對比度改進，以確保盡可能高的圖像質量。光束成形過程還有助於去除色差，色差在高放大倍數下會降低圖像的質量。PHILIPS CM 12能夠在各種樣品類型中實現高達1nm的高分辨率成像功能。此外，它的能量過濾單元加上高分辨率固態檢測器提供了廣泛的成像能力，從元素映射到電子斷層掃描。該系統提供遠程訪問，使科學家能夠加強研究速度和靈活性。這使研究人員能夠方便地從遠離顯微鏡的單獨區域控制SEM，提供舒適性和專註於實驗的能力，而不會哄騙系統。CM12提供卓越的性能,並提供額外的功能和選項,使它既靈活又方便用戶。CM 12具有出色的像差校正能力、高分辨率成像和廣泛的成像選項,是高分辨率成像應用的理想選擇。
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