二手 PHILIPS / FEI CM12 #9302349 待售

PHILIPS / FEI CM12
ID: 9302349
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI CM12是一種掃描電子顯微鏡,用於檢查各種樣品的微觀成分。它配備了大型野外發射槍、探測器系統和能夠產生高達12毫米尺寸樣品高分辨率圖像的反作用室。其應用範圍廣泛,包括材料科學研究、納米技術、半導體制造、表面分析等。FEI CM12能夠產生分辨率高達10 nm的高質量圖像,從而使用戶能夠檢測和分析樣品的微小結構和組成細節。它配備了一系列敏感探測器,包括能夠進行元素分析的SEM-EDS系統。此外,它還提供集成的提升桿和樣品傾斜功能,以及用於研究表面結構(如微晶結構)的各種放大材料分析(MA)程序。PHILIPS CM 12設計方便用戶,並提供直觀的用戶界面,便於瀏覽菜單和控制多個設置。顯微鏡中強大的真空技術能夠在超高真空(UHV)條件下運行,允許樣品導入而不受任何汙染。此外,其高效的自動化功能使快速收集各種樣品的成像和光譜數據成為可能。飛利浦CM12是一種先進的顯微鏡,具有最新的技術和廣泛的應用,使研究人員能夠對材料進行精確的分析。其直觀的用戶界面和強大的系統使其成為材料研究和檢驗的絕佳選擇。
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