二手 PHILIPS / FEI CM12 #9315596 待售

PHILIPS/FEI CM12是一種場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），常用於材料科學和材料工程領域。它是一種利用場電荷電子對樣品材料表面成像的電子顯微鏡。這類電子顯微鏡與其他更傳統的電子顯微鏡類型，如透射電子顯微鏡（TEM）相比，允許更高的分辨率成像。FEI CM12配備了允許高分辨率成像的超穩定場發射電子槍（FEG）。FEG由一根鎢絲組成，當施加電壓時加熱和發射電子，產生比TEM產生的分辨率更高的樣品材料圖像。PHILIPS CM 12利用許多其他功能和組件來產生圖像。其中包括一個自動對焦設備、一個自動調平系統、一個球形偏轉器線圈、一個頂入式樣品更換器和一個低壓高放大柱。自動聚焦單元利用微靈敏檢測器調節電子束的焦點，以提高圖像的分辨率。自動調平機確保顯微鏡的標本級始終水平穩定，有助於保持一致的分辨率水平。球形偏轉器線圈使用電磁體調整電子束的方向，提供最高可能的解析度。頂入式換樣器允許在成像過程的中間快速且容易地改變樣品材料。這樣可以方便地重新定位標本，並確保不會中斷成像過程。低壓高放大柱允許在相對較低的電壓下對樣品進行高分辨率成像。總體而言,PHILIPS CM12是一種最先進的掃描電子顯微鏡,它提供高分辨率成像和許多功能,使其成為材料科學和材料工程應用的理想選擇。它是一個有價值的工具，可以讓科學家深入了解他們正在研究的材料。