二手 PHILIPS / FEI CM120 #293643924 待售

PHILIPS/FEI CM120是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），在眾多研究領域具有廣泛的應用。它旨在提供最高分辨率為3.6nm的高質量成像功能。它采用先進的電子槍設計和自動試樣室，是高精度實驗的理想選擇。顯微鏡的成像能力可以通過使用二次電子、反向散射和能量色散X射線成像檢測器進一步增強。這些探測器能夠詳細觀察樣品結構，包括成分的變化，以及材料的電性能信息。此外,顯微鏡還提供了一系列自動化功能,便於操作和樣品定位。FEI CM120是一個特殊的工具,用於一系列材料研究應用,包括故障分析、材料表征以及微米級結構分析。它具有高達20毫米的寬大工作距離，以適應一系列的樣本量和形式。顯微鏡的放大倍率範圍高達166,000x，能夠進行詳細的觀察和分析。該儀器提供靈活的觀看器、舞臺控制和SEM顯微照片。觀看者可以輕松導航和輕松操作，而舞臺控制則可以讓研究者精確定位樣本，而無需任何額外的輔助。最後，SEM顯微圖顯示了一系列令人印象深刻的樣本圖像，使研究者能夠對樣本進行真正的詳細分析。PHILIPS CM 120是任何科學家的精美工具,為材料研究應用提供一系列令人興奮的功能。現代成像探測器的範圍，加上樣品制備的靈活性和自動化的特點，使它成為任何實驗室真正寶貴的顯微鏡。