二手 PHILIPS / FEI CM120 #9195671 待售

PHILIPS/FEI CM120是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為廣泛的材料研究樣品提供強大的成像、分析和樣品制備工具。它結合了一種用於SEM成像和數字信號處理的高靈敏度檢測器，用於材料特性的高級分析。這種裝置利用先進的電子源，產生了更好的分辨率和對比度。FEI CM120的加速度電壓範圍為1-30kV,允許對一系列樣品和材料進行成像。此範圍允許以不同的放大倍數制作圖像。PHILIPS CM 120還有一個可以輕松手動控制的自動化舞臺，它允許平移、縮放和速度操作。這使得移動和探索樣本變得容易。該儀器采用能量色散X射線（EDX）探測器設計，能夠同時檢測樣品周圍探測器發射的電子和X射線。一旦這些檢測到達檢測器信號處理是用來獲取樣本圖像的。這使得制作樣品圖像便於進一步的材料分析。PHILIPS/FEI CM 120提供了廣闊的視野，非常好的視野深度和改進的細節標本。它還提供了多種掃描模式來增強從不同樣本類型中獲得的結果。這有助於用戶以高效的方式在顯微鏡上以更詳細的方式可視化樣品。由於計算機的自動控制，用戶只需最小的努力就能制作出出色的樣品圖像。這有助於確保圖像質量最高。顯微鏡還有簡化操作、控制和圖像數據評估相關活動的軟件。它還提供自動化的計算操作以支持有效的研究。CM120是材料研究的絕佳選擇，因為它具有多種特性和功能，靈敏的探測器和數字信號處理能力。它簡化了樣品成像、分析和制備過程，使其成為多種類型研究的有力選擇。