二手 PHILIPS / FEI CM120 #9359112 待售

PHILIPS/FEI CM120掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能儀器,旨在以更高的分辨率生成各種材料的高度詳細的圖像。其尖端的電子光學，加上極低的噪聲水平和高分辨率，允許卓越的圖像質量。FEI CM 120的高功率、透鏡內熱場發射SEM電子源提供高電流的電子，能夠解析尺寸小至0.2納米（nm）的特征。它有場發射槍（FEG），電子束電壓高達30千伏（kV）。此外，飛利浦CM 120具有先進的可變壓力模式，用於成像非導電樣品。這允許在從真空到低壓的各種環境條件下對樣品進行成像。CM 120的全自動自動化系統和直觀的界面,允許高效的操作.通過提供自動校準和自動對焦功能,系統無需手動對準。它還配備了高速掃描能力，提供快速的圖像采集。此外，PHILIPS/FEI CM 120包含了與多通道探測器系統集成的數據分析和采集能力，以及包括二次電子、反向散射電子、X射線和能量色散X射線探測器在內的多種探測器。所有這些功能都有助於高分辨率成像和快速數據采集。CM 120還提供多種選擇，例如傾斜和旋轉階段，以及地形成像的傾斜和查看階段。它還具有用於非導電樣品成像的低壓成像模式。總體而言，飛利浦CM120掃描電子顯微鏡是一種功能強大且用途廣泛的工具，能夠產生極高分辨率的圖像。它的自動化控制、直觀的接口和多通道檢測器易於使用,並提供可變壓力成像、傾斜級和強大的檢測功能。此外，其先進的電子光學，低噪聲水平和高分辨率提供卓越的圖像與優秀的細節。