二手 PHILIPS / FEI CM120 #9359285 待售

ID: 9359285
Transmission Electron Microscope (TEM).
PHILIPS/FEI CM120是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於一系列研究和工業應用。它以提供卓越的圖像分辨率和深度聚焦而聞名。FEI CM120是FEI高端SEM系列的一部分,提供最新功能,包括改進成像穩定性的漂移校正和調整和優化設置參數的直觀觸控。PHILIPS CM 120利用場發射槍(FEG)產生高品質的聚焦電子束,使分辨率達到1.5 nm。這為生成具有高對比度和曲面細節的圖像提供了條件。該系統還包括一個大型E探測器,用於生成高質量的次級和反向散射電子圖像。這些特征與探針校正過的迷你柱相結合,導致產生到原子尺度的物體的銳利圖像。PHILIPS/FEI CM 120配備了一系列軟件,為操作顯微鏡提供指導。這包括優化數據采集和圖像分析以及管理示例準備和數據存儲等任務的工具。PHILIPS CM120具備執行各種成像的功能。傳統的SEM成像可用於表面地形和高分辨率成像。近光成像用於生成晶粒和晶體結構圖像,而遠光成像則用於產生高對比度圖像和元素圖。此外,CM 120裝備用於能量色散光譜(EDS),用於樣品的化學分析。紅外顯微鏡(IRM)可用於紅外成像和熱分析.最後,FEI CM 120可用於自動檢驗和測量以及一般質量控制.可用於薄膜厚度、尺寸、表面地形、缺陷、元素成分的評估。該系統具有亞微米精度,可廣泛應用,從電子元件到醫療設備和材料。
還沒有評論