二手 PHILIPS / FEI CM120 #9371673 待售

PHILIPS/FEI CM120是一種掃描電子顯微鏡，提供高分辨率的納米級結構成像和分析。該SEM采用電子柱設計,具有獨特的偏轉器,能夠在低於競爭模型的電壓下實現快速掃描和高分辨率成像。此外，該單元還配備了自動粗對準系統，減少了典型光束對準所需的時間。配備FEI CM120的數字系統提供高達2048x2048像素的圖像采集和顯示分辨率,以及5Kw的陰極發光（CL）模塊,為納米級結構提供了更大的對比度。PHILIPS CM 120由於其專有的MULTIBEAM™技術,在同級別的SEM中具有最高的分辨率。此技術允許跨多個點同時掃描,從而獲得比傳統單點掃描方法更高的分辨率。MULTIBEAM技術也被用於CL成像，允許對納米結構進行更深入的分析，揭示比傳統掃描方法更多的細節。FEI CM 120包括集成的圖像處理功能,允許用戶實時分析和記錄其結果。這一特征對於建立精細結構表征的定量基礎特別有用。SEM還配備了藍色LED指示燈,使樣品室的導航更加方便。此指示燈照亮腔室內部,提供更清晰的樣品視圖。此外,PHILIPS CM120通過其用戶友好的圖形用戶界面和幾個內置的軟件控制選項提供直觀的操作,使設備易於經驗豐富的用戶和新手用戶使用。除了卓越的成像功能外,CM120還提供可選配件,進一步增強用戶體驗。其中包括高靈敏度X射線光譜儀、高分辨率采樣級，以及各種適用於廣泛應用的相機配置。所有這些功能結合在一起,使PHILIPS/FEI CM 120成為可靠且高效的SEM解決方案,提供高分辨率成像和無與倫比的性能。