二手 PHILIPS / FEI CM20 #293686733 待售

PHILIPS/FEI CM20是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對廣泛應用的表面進行無損分析。該儀器的最大二次電子（SE）成像分辨率為1 nm,在低kV時具有優異的性能,可降低充電和優化精細特征的分辨率。該儀器配備了最新的FEI EDAX軟件,它提供了包括圓度分析、網格/無網格測量、圖像分割、石墨烯表征、粒子跟蹤等在內的圖像處理功能。它還集成了板載圖像分析軟件以實現快速結果,以及用於保留數據的圖像存儲系統。FEI CM20有一個冷場發射槍（FEG），一個可能能量最低的電子束，使得可用的分辨率最高的成像。光束遮擋器還可以減少樣品的充電，給樣品造成的傷害最小。此外，集點控制的SE檢測器在一段時間內保持一個固定的條件以獲得一致的結果，並通過內置光束穩定特征來保證圖像的穩定性。顯微鏡工作距離大，便於取樣。舞臺機動化，方便圍繞樣品導航。該機還具有可調腔室壓力，以擴大應用能力，包括高真空和低真空環境。PHILIPS CM 20堅固可靠，為各種無損應用提供了異常高分辨率的成像。其集成的控制系統、軟件、探測器和附件使其成為各種技能水平用戶的寶貴SEM成像工具。