二手 PHILIPS / FEI CM20 #293766563 待售

PHILIPS/FEI CM20是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供納米尺度標本的高分辨率、穩定成像。它被設計為一種多功能成像儀器，適合多種應用，包括材料科學、生物學和半導體故障分析。FEI CM20配備了大面積場發射源以提高電子產率，提供低壓成像環境的高真空系統，以及用於低真空觀測的高真空傳遞室。SEM還配備了彩色互比功能的光學相機。PHILIPS CM 20具有高性能成像能力,包括明場、暗場和差分幹涉對比度（DIC）。其先進的真空系統可實現高真空和低真空成像模式的觀測。該範圍還利用軸上和離軸反向散射電子能量濾波器進行特定的同位素識別和組成信息，而脈沖電子操作的可變長度減少了高分辨率成像過程中的表面充電。飛利浦CM20設計用於使用各種探測器，包括用於大面積成像和高通量的陣列探測器，以及允許同時成像地形和組成的二次電子探測器。FEI CM 20還具有在低真空模式和高真空模式下獲取自動圖像的能力,能夠對樣品表面特征進行復雜的3D成像和分析。其他成像特征包括任意傾斜角操作和不同角度圖像掃描的自動標本級操作。SEM還配備了用於元素分析的AN EDX檢測器，結合集成微分析軟件提供多維成像數據，可用於分析樣品的化學成分和元素結構。最後，PHILIPS/FEI CM 20配備了包括電子束光刻設備、寬射程標本架、二次電子檢測器和槍對準和自動對焦系統在內的多種配件。這些附件結合CM 20的高分辨率成像功能,實現了從半導體故障分析到材料科學研究等多種應用。