二手 PHILIPS / FEI CM200 FEG #293639217 待售

PHILIPS/FEI CM200 FEG是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為用戶提供了一種研究微觀樣品的有效方法。SEM利用陰極發光利用標準二次電子探測器和薄膜X射線探測器同時拍攝樣品。顯微鏡由場發射槍（FEG）提供動力，該槍將聚焦的電子束分配給小尺寸的快速成像樣品。這種可靠的成像設備非常適合分析微觀結構，與其他成像系統相比提供了前所未有的詳細程度。FEI CM200 FEG的高速數據采集能力非常適合物理科學和半導體研究。SEM的雙射手功能為上下表面拍攝提供了同時成像解決方案,從而消除了樣品長時間的舞臺移動。SEM具有1-2kV的低加速電壓,進一步降低了充電效果。飛利浦CM200 FEG配備了高分辨率數字成像系統。該單元包含一個室內計算機和一個二次電子探測器，能夠捕獲放置在舞臺上的樣品的高分辨率2D圖像，用於測量和深入分析。它還包含一個自動化的樣品對齊機，以提供高達1微米的分辨率和定向的樣品在圓形運動的直徑可達8毫米。CM200 FEG還具有一個具有600毫米x 600毫米移動範圍的自動化舞臺。舞臺能夠提供精確的橫向運動和傾斜位置的重復性。這使得SEM能夠在大面積上精確地移動，並提供對顯微鏡的精確控制，同時保持優越的穩定性。該裝置還具有樣品級和二次電子探測器上的冷卻元件，穩定了SEM的環境，減少了熱波動。PHILIPS/FEI CM200 FEG還配備了用於精確數據采集和控制的高級軟件以及自動圖像掃描儀。圖像掃描儀可以精確控制電子束偏轉工具，該工具用於自動定位和分析樣品中的材料。這為科學家在一次掃描中研究和分析樣本的幾個區域提供了一種有效的方法。此外，先進的軟件為用戶提供了一個簡化的界面，用於控制他們的測量和濾除任何噪音。FEI CM200 FEG由於具有多種特性和先進的技術能力，是分析微觀樣品的理想工具。它提供精確的高分辨率成像、高效的階段移動和自動化的軟件功能,使樣本分析更加高效和準確。PHILIPS CM200 FEG擁有眾多功能和可靠的影像資產,是任何實驗室的理想解決方案。