二手 PHILIPS / FEI CM200 #293606955 待售

PHILIPS/FEI CM200掃描電子顯微鏡是一種先進且用途廣泛的成像設備，用於檢查各種材料的微觀表面形態。顯微鏡配有低壓分析電子柱，主要用於獲取樣品表面地形的高分辨率圖像。FEI CM200采用基於模塊化平臺的設計,可靈活集成各種探測器和附件。這使得顯微鏡成為各種成像應用的理想選擇，如半導體器件的顯微鏡、晶體、地質和生物學。顯微鏡由200kV鎢絲電子槍驅動。該槍產生一個電子束，通過磁透鏡和靜電透鏡的組合聚焦並指向樣品表面。電子束通過兩個步進電機在樣品上掃描，然後由電子探測器檢測得到的二次電子進行成像。此外,PHILIPS CM 200還配備了反向散射電子（BSE）探測器,使操作員能夠抑制表面特征並揭示樣品的更深層次特征。PHILIPS/FEI CM 200的管子增益可在0.5到8x之間調節，在二次電子中最大分辨率為20nm。儀器還配備了可調Z軸數字表面成像系統，使操作員能夠精確調整傾斜角度，專註於樣品特征。再者，顯微鏡兼容了包括數字和陰極發光探測器在內的一系列特殊的探測器封裝，以及X射線光譜儀，可以用來獲得更詳細的結果。CM 200掃描電子顯微鏡是一種極其復雜和強大的成像設備,能夠為各種材料提供樣品表面形態的極其詳細的視覺效果。隨附顯微鏡的人性化控制軟件，可讓操作員調整放大倍率、亮度和對比度，以獲得最大的清晰度和細節。考慮到其強大的成像能力、靈活性和經濟性,FEI CM 200是各種成像應用的理想選擇。