二手 PHILIPS / FEI CM200 #293610665 待售

PHILIPS/FEI CM200是一種與一系列電子探測器兼容的中壓掃描電子顯微鏡，如Everhart-Thornley和成像濾波器。這臺掃描電子顯微鏡配備了場發射槍（FEG）和亮場光學器件，以達到更高的分辨率。這臺儀器的最大加速電壓高達200 kV，可以對不同領域的樣品進行精確成像和分析。FEI CM200的FEG由液氮冷卻發射器供電，以減少充電。這提供了具有精確劑量和亮度控制的穩定操作，使得這種儀器適合一系列的應用。傳統的FE透鏡采用高質量的同軸磁控管，利用磁場聚焦電子。為了對樣品進行成像和分析，PHILIPS CM 200包括了一系列的集成探測器，例如二次電子探測器（SE）。此檢測器提供對樣本的定性洞察,捕捉諸如表面粗糙度等特征的圖像。反向散射電子檢測器（BSED）裝備允許對樣品進行定量分析，提供元素組成等關鍵特征的測量。在PHILIPS CM200的圖像樣本中,包括超高精度和快速響應階段.控件是電動的,可以在6軸運動範圍內操作樣本。這樣可以動態成像和對齊樣品,達到nm尺度。該儀器還包括一個集成的X射線能譜儀，以映射樣品中的元素分布。除了樣品處理和成像，CM 200能夠在材料和結構層面分析樣品。這是通過結合二次電子、反向散射電子和X射線的成像能力來完成的。可以進行光譜分析來檢查樣品，提供關於它們的結構和物質與電子之間相互作用的信息。FEI CM 200提供用戶友好的穩定性和控制性，這使得這種掃描電子顯微鏡成為各種研究和教育應用的理想選擇。它具有直觀的控制面板和廣泛的成像模式。這樣就可以在樣本的不同區域捕獲樣本的多個圖像,從而確保全面的概述。