二手 PHILIPS / FEI CM200 #293639843 待售

PHILIPS/FEI CM200是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），提供多功能、高性能的成像。與傳統的SEM系統不同，這種顯微鏡提供了非常高的精度和精確度，使研究人員能夠觀察到各種材料的內部微觀結構。FEI CM200使用高分辨率二次電子探測器和蔡司采購的成像設備來產生高分辨率和對比度圖像。此外，該系統還能夠利用反應室以圖形方式進行外觀、蝕刻和沈積材料的進一步分析。飛利浦CM 200的主要特點是分辨率極高。加上蔡司成像系統，圖像分辨率可以比傳統光學顯微鏡更好地達到3000倍，使研究人員能夠研究納米級的結構。探測單元提供了超過1微米的視野，使研究人員能夠以高度的細節查看物體，並將其放大到原來大小的100,000倍。除了出色的成像能力外,CM200還具有多種功能,使樣品分析更加容易。該機能夠控制初級電子槍的電壓和束壓，提供對比度/增強等功能，並且可以調整以提供多種高分辨率成像模式，包括用於檢查未汙染表面的高敏銳度反向散射電子（BSE）成像模式。它還支持廣泛的自動化工具，以協助研究人員管理他們的實驗。與其他SEM相比,PHILIPS/FEI CM 200具有廣泛的優勢。它具有高分辨率的成像能力，使研究人員能夠以無與倫比的精確度和細節研究微觀物體。它的自動化工具還為研究人員提供了對實驗的更大控制。該工具還包括一個反應室，允許用戶探索半導體加工和沈積，以便進一步分析。總體而言，FEI CM 200是一個強大的掃描電子顯微鏡，為研究人員提供了一個非常精確的工具來研究材料。其高分辨率和一系列自動化功能使其成為各種研究任務的理想選擇。