二手 PHILIPS / FEI CM200 #9189104 待售

PHILIPS/FEI CM200是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於可靠地表征低至納米級分辨率的材料。其最先進的成像技術為調查生物和工業材料提供了一套全面的分析工具。FEI CM200利用帶有燈絲的電子源，在真空室中加熱發射電子。為了獲得最高分辨率和最佳對比度的圖像，使用了一個掃描線圈，其中電子束被掃描穿過樣品。除了動態圖像形成之外，還可以從各種探測器收集數據來分析樣品表面組成信息。SEM實現了廣泛的成像能力，從鏡頭有限分辨率到表面元素映射。所有的成像選項都是為了方便快速和高精度的分析而設計的。其最大放大倍率下的圖像分辨率高達1納米，具有直觀的用戶界面，使操作更加容易。PHILIPS CM 200使用先進的自動化舞臺技術對樣品進行精確的自主定位，使其能夠快速調整位置，捕獲大陣列圖像，生成完整的概述。它的5軸斷層掃描選項允許樣品以各種角度傾斜和旋轉以進行3維成像。它還支持雙成像的相關性，將兩種不同類型的圖像相互比較。除了成像之外，CM200還提供了許多分析工具來進一步表征標本。這些包括能量色散X射線光譜（EDS）、波長色散X射線光譜（WDS）、電子反向散射衍射（EBSD）。EDS和WDS允許精確的元素分析和映射，EBSD提供晶體學結構的信息。PHILIPS/FEI CM 200是一種強大的掃描電子顯微鏡，設計用於分析納米級的一系列材料。其先進的成像能力，加上全面的分析工具，使其成為各種研究應用的合適工具。