二手 PHILIPS / FEI CM200 #9232065 待售

PHILIPS/FEI CM200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），專為高級成像和分析應用而設計。廣泛用於納米級成像和亞微米表面分析。FEI CM200具有200 kV場發射電子源,可提供高分辨率成像,同時減少散光。其ClearCMOS™探測器為多通道成像提供了同時二次和反向散射電子，從而實現了更快的信噪比和更好的數據質量。PHILIPS CM 200具有獨特的自動對比度功能,可提高圖像質量,使用戶無需事先了解材料或其特性即可分析樣品。CM 200設計具有先進的計算能力，使科學家和工程師能夠更快、更精確地捕捉圖像。顯微鏡具有高速X、Y掃描、較大的Z掃描範圍和高達1KHz的最大掃描速率。還支持立體成像、3D表面成像和多種成像模式。飛利浦CM200旨在滿足各種材料分析的需要,包括半導體故障分析、先進的3D表面表征、缺陷定位和分析以及泄漏電流成像。CM 200先進的自動化技術簡化了樣品加載和對齊,使用戶可以在單個會話中對多達24個樣品進行成像。除了成像能力外，PhilipPHILIPS/FEI CM 200還提供多種分析能力，包括元素分析、化學成分映射、沈澱監測等等。顯微鏡還支持種類繁多的探測器，為用戶提供了為特定應用選擇正確探測器的靈活性。FEI CM 200是一種先進的掃描電子顯微鏡，為各種應用提供先進的成像和分析能力。它內置的自動化功能使其易於使用,其先進的功能使其成為實現最高分辨率圖像和準確樣本分析的理想選擇。