二手 PHILIPS / FEI DB237 #293620721 待售

PHILIPS/FEI DB237是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於微觀結構和表面的研究。它配有高分辨率、場發射陰極，產生高能量、小直徑的電子束，使樣品的成像容易準確。電子束指向位於半磁性樣品支架上的樣品，允許大範圍的傾斜角度，讓使用者有機會從不同角度觀察樣品的特征。此外，該設備還包括一個二次和反向散射電子（BSE）探測器，它提供了納米尺度的材料結構信息。這與從初級電子束收集電子的能力相結合，使使用者能夠以原子水平的分辨率測量表面地形。該系統的其他功能包括用於放大、平移和像素平均的數字圖像視頻處理。此外，FEI DB237還提供低真空模式，使生物樣品和聚合物等非導電材料能夠成像。該單元還提供柱內能量過濾光譜（EELS），用於元素映射和化學成像，使其適合各種研究任務。集成軟件進一步增強了PHILIPS DB 237的功能,為用戶提供了不同的工具,用於圖像分析、3 D曲面重建、定量分析和圖像處理。機器直觀的圖形用戶界面簡化了操作，使研究人員能夠充分利用這一SEM。總之，DB237是一種高性能的緊湊型SEM，使用戶能夠在原子層面觀察和分析樣品。它結合了高分辨率電子束、BSE探測器和集成軟件，使研究人員能夠以納米尺度的分辨率執行表面地形和元素映射任務。