二手 PHILIPS / FEI EM 400 #9298535 待售
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ID: 9298535
Transmission Electron Microscope (TEM)
Twin lens with STEM / TEM
Resolution: 2.04 Angstrom.
PHILIPS/FEI EM 400掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於超高分辨率查看和分析微觀結構的強大研究工具。它利用了多種成像技術，包括反向散射電子成像（BSEI）、二次電子成像（SEI）和EDX（能量色散X射線光譜）。通過結合這三種技術的能力，FEI EM 400能夠為研究人員提供大量有關樣本組成和形態的詳細信息。飛利浦EM 400具有超高分辨率VGA式電子探測器，專為掃描電子顯微鏡設計。這個探測器與一個新穎的快速掃描系統結合使用，這使得能夠在幾秒鐘內獲取各種各樣的圖像類型。它能夠在高分辨率模式下以高達每秒1,200張圖像的速度處理樣本,或者在中等分辨率模式下以每秒3,500張圖像進行處理。另外，EM 400配備了先進的微米級對準，允許精確的標本定向和定位。為了卓越的影像性能，PHILIPS/FEI EM 400配備了最先進的野戰發射槍（FEG）。這種FEG為用戶提供了高通量的電子，從而提高了圖像對比度和優越的分辨率。此外，其先進的單晶光學提供了最佳的圖像亮度、協作性和均勻性。此外，顯微鏡能夠在不同的真空壓力條件下工作，範圍從30到0.5 PA。FEI EM 400還具有幾個專有功能，使用戶能夠優化其儀器的性能。其中包括數字圖像采集系統（DIAS）,它提供了強大的圖像處理套件,可以校正對比度、測量樣品尺寸以及將圖像從顯微鏡傳輸到遠程PC。此外,顯微鏡還配備了內置的熱場發射源（TFES）探測器,可以精確定位樣品級,從而改善了圖像采集。最後,PHILIPS EM 400是一種用途極為廣泛的掃描電子顯微鏡,它結合了先進的成像技術和先進的電子光學元件,為研究人員提供了詳細的樣品視圖。通過利用其野外發射槍、單晶光學器件以及一系列的專有特性，用戶可以以最小的努力優化機器的性能，以獲取高質量的圖像。
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