二手 PHILIPS / FEI EM 400T #9004003 待售

PHILIPS/FEI EM 400T是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於從生物樣品、礦物學到材料科學等廣泛應用的高分辨率微觀和納米結構成像。它提供了廣泛的景深和高成像分辨率,使用戶能夠清晰明了地觀察小特征。SEM能夠顯示分辨率在納米範圍內的圖像，並且能夠將樣品放大到~ 450 kx。FEI EM 400T配備了肖特基場發射槍，這是一種電子槍，產生密集的電子束，加速到樣品。產生的電子被一組透鏡聚焦並凝結成一個小的、緊密的光束，以實現更高的放大倍率和更高的分辨率圖像。SEM設備采用高性能成像系統,采用大型高清數碼相機和冷卻技術。這使用戶能夠快速方便地查看和捕獲大格式、高分辨率的圖像。此外，PHILIPS EM 400T有一個內置掃描階段，允許用戶在觀察時精確掃描他們的樣本。SEM還具有自動階段調整功能,可增強環境穩定性,並能夠快速掃描和收集多個圖像。憑借直觀的用戶界面，EM 400T讓即使是新手用戶也能輕松快速理解和使用單元的功能。PHILIPS/FEI EM 400T具有低振動設計,可確保圖像沒有運動偽影。此外，內置檢測器使用戶能夠從樣品中查看次級電子和反向散射電子，以獲得更高對比度的圖像。此外,FEI EM 400T還提供集成的自動化和控制功能,如軟件輔助對齊、自動對焦調整和自動階段控制。這使用戶能夠快速輕松地獲得高質量的圖像,而無需不斷監控樣本。PHILIPS EM 400T還包含強大的成像和數據采集選項,允許用戶微調圖像以增強對比度、顏色和清晰度。使用用戶友好的軟件,用戶可以自定義圖像處理和分析功能,以滿足其特定的映像需求。EM 400T是一個理想的成像微觀和納米結構在各種應用的機器。其先進的功能和用戶友好的界面使其易於操作,並使用戶能夠快速方便地獲得清晰明了的圖像。