二手 PHILIPS / FEI EM 400T #9257475 待售
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ID: 9257475
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine
Multi-axis specimen holders
(19) Nozzles
(4) Metal mesh filter tubes
(2) Extender cards
CCD Cameras
Pre-vac gauges
Lens regulator
HIVAS Gauges
Evaluation electronics
Sensors
Image processing unit
Circuit boards
Spare parts
Manuals included.
PHILIPS/FEI EM 400T是一種專用於納米級樣品成像和表征的熱場發射掃描電子顯微鏡（TFE-SEM）。它具有模塊化設計,允許根據用戶的應用程序需求進行自定義。FEI EM 400T配備了200毫米平極掃描電子源、大功率25毫米球極掃描電子源，以及高精度低能量網格式火炮對準設備。它還配備了創新的鏡頭內雙傾炮對準系統，方便改變電子束的傾斜度和焦點。飛利浦EM 400T提供先進的現場發射技術,實現快速、精確的樣品成像.它設計了一個大的圖像場，包括一個16百萬像素的數碼相機，可以捕獲圖像高達4K分辨率。EM 400T的最大工作距離為10 mm，分辨率為1.2 nm。它還有一個自動化的樣本交換單元，允許掃描多個樣本而不會中斷。PHILIPS/FEI EM 400T提供了一系列令人印象深刻的成像功能,包括反向散射電子（BSE）、二次電子（SE）、能量色散X射線光譜（EDS）、陰極發光（CL）和廣譜成像（BSI）。它還具有廣泛的強度和過濾器控制。該儀器的超穩定采樣臺和采樣架具有良好的隔振性能和良好的采樣定位和對準精度。FEI EM 400T包括基於PC的集成控制機器和直觀的軟件接口。此工具提供了一整套用於創建高質量圖像的工具,例如對比度和閾值控件、圖像平均和圖像縫合功能。它還配備了自動化的樣品準備工具，使用戶能夠快速準備樣品成像。總體而言，PHILIPS EM 400T是研究各種納米級樣品的理想儀器，如礦物、納米顆粒和光電材料。EM 400T憑借其創新的現場發射技術、一系列成像功能和自動化的樣品準備工具,為各種應用程序提供卓越的成像和表征性能。
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