二手 PHILIPS / FEI EM 400T #9257518 待售
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ID: 9257518
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine
Multi-axis specimen holders
(19) Nozzles
(4) Metal mesh filter tubes
(2) Extender cards
CCD Cameras
Pre-vac gauges
Lens regulator
HIVAS Gauges
Evaluation electronics
Sensors
Image processing unit
Circuit boards
Spare parts
Manuals included.
PHILIPS/FEI EM 400T是一種現代掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於大型成像、三維分析和高分辨率的微觀結構量化。該模型是一種高性能、熱穩定的設備，在整個擴展成像會話中提供穩定性、精確度和準確性。它具有先進的場發射源、高效的Einzel透鏡和高性能的能量色散光譜（EDS）探測器,能夠獲取材料表面的詳細圖像和組成圖。FEI EM 400T在SEM模式下的分辨率為1.3nm,在STEM模式下的分辨率為5.15nm,允許高度詳細的可視化。它配備了一個自動化的樣品級，能夠容納直徑達150毫米的樣品。該系統由高級軟件管理,該軟件允許進行精確的調整、功能和設置,以實現最小的樣品損壞、改進的成像質量和高效的流程工作流程。用戶界面允許自定義各種成像參數，如斑點大小、劑量、舞臺位置和成像區域，並實現自動化成像任務。PHILIPS EM 400T是一種多功能儀器，能夠進行廣泛的應用，如研究生物結構、在其天然環境中成像化合物、分析微結構和納米結構。此外,它是材料研究和逆向工程的理想選擇.其法拉第籠式可實現磁性和電性偏轉,允許光束轉向,而無需更換昂貴的設備。EM 400T還采用了光束電流反饋系統，自動調整光束位置，以提高光束穩定性，減少充電偽影。此外，該模型與各種附件兼容，如塗層和氣體系統，使非導電樣品的成像效果更好。總體而言,PHILIPS/FEI EM 400T是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,能夠提供優越的材料圖像和微觀結構。它的高級功能使其非常適合進行詳細分析和高分辨率成像,從而使用戶能夠更好地了解材料結構和組成。
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