二手 PHILIPS / FEI EM 400T #9300051 待售

PHILIPS/FEI EM 400T是一種掃描電子顯微鏡（SEM），使用戶能夠以高度精確度觀察非常小的標本細節。它結合了場發射、高分辨率陰極發光成像和二次電子成像等強大技術，以納米級分辨率獲取詳細圖像。FEI EM 400T提供從10倍到超過250,000倍的高放大倍數。PHILIPS EM 400T基於場發射技術，依靠電子槍產生電子，電子電荷放大器將電子數字化。這些電子形成聚焦在樣品表面的束，提供樣品的高分辨率截面圖像。同時，二次電子從樣品中發射出來，用於成像。陰極發光成像也得到EM 400T的支持。這種技術使用預定義能量和波長的電子束，掃描樣品的一個區域，產生光譜信息。該儀器將成像和光致發光光譜相結合，對材料進行定量測量。PHILIPS/FEI EM 400T是多種應用的通用工具，包括材料故障分析、半導體和晶圓檢測、生物成像和半導體器件制造。它的集成軟件允許用戶根據手中的特定成像任務定制顯微鏡設置，並有助於高效的工作流程。FEI EM 400T是為在不同環境下可靠掃描電子顯微鏡（SEM）成像而構建的，包括研究實驗室、生產線和QA/QC應用。它的自動化操作和用戶友好的設計提供了最大的效率在試樣準備和成像。這種堅固的設備非常適合進行各種材料分析，如薄膜、生物材料和冶金。