二手 PHILIPS / FEI EM208 #293805148 待售

PHILIPS/FEI EM208是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於分析具有顯著細節的微觀結構。它采用頂級Gatan成像技術,可提供2.5nm的最高分辨率。利用各種加速電壓和毫安發射電流，可以準確可靠地分析樣品從淺層到極深的結構水平。FEI EM208在一個先進的GEMINI成像軟件上運行，以確保高質量圖像的交付。它采用獨特的GIF量子二次電子檢測器，以精確的顏色對比精確地確定樣品的不同區域。掃描電子顯微鏡配備了多種自動化程序，如聚焦自動化、柱頭化、加速電壓和發射電流設置、圖像亮度和對比度優化以及自動測量參數。配備精確的EDAX自動能量色散光譜儀，PHILIPS EM 208可以精確分析元素成分。分析探測器與能幹的軟件結合在一起，使用戶能夠識別應用的傳統分析技術，如EDAX HEX和EDX元素映射、X-EDSA、楔形映射和能量/質譜。PHILIPS/FEI EM 208還提供了一種X射線檢測器，方便分析特定材料。X射線探測器可用於確定分析樣品的深度，並可自動計算地下深度。PHILIPS EM208是研究和質量保證應用的理想選擇,因為它具有一系列令人驚嘆的功能。它為樣本表征和元素分析提供了最高的分辨率和準確性。利用電子束感應電流（EBIC）可以檢測樣品中電流的傳導，提供半導體器件觸點極性和電線的信息。歸根結底,FEI EM 208是一種功能強大的掃描電子顯微鏡,它提供了一系列先進的成像和分析功能。通過無與倫比的分辨率和自動化,它提供了無與倫比的準確性和細節,並提供了無與倫比的用戶便利。