二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200是一種雙束掃描電子顯微鏡,一種提供高分辨率成像能力的工具。顯微鏡配備了多種特性,使其成為各領域研究人員必不可少的工具。基本光學系統由陰極射線源和多種透鏡和控件組成,用於聚焦和操縱電子束。顯微鏡還具有聚焦離子束(FIB):這種裝置能夠直接操縱毛細管,允許諸如銑削和鉆孔等操作。同一臺儀器上電子束和離子束的結合使其既能實現高分辨率成像,又能實現納米加工。顯微鏡本身的最大分辨率為0.8 nm,視野高達4 mm。它能夠在30 kV至30 kV運行,並且可以調整為多種不同的操作模式。此外,儀器還有一個可用於樣品分析的分析系統,提供來自二次電子、反向散射電子和X射線的信號。FEI FIB 200是一種多功能成像儀器,能夠產生一致的高質量結果。它結合了電子束和離子束成像能力,以及低功耗和廣泛的操作模式,使其成為研究人員的絕佳選擇。飛利浦FIB-200是一個令人難以置信的精確和可靠的機器,提供最高水平的質量和準確性。
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