二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293594795 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293594795
Focused Ion Beam (FIB) system Ion column GIS Included.
PHILIPS/FEI FIB 200是為現代研究環境設計的最先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。它被設計成具有高質量的成像能力,使它能夠觀察到即使是最微妙的樣品中的結構。一種集成的野外發射槍(FEG)有助於它的高分辨率,它允許對原子尺度的材料進行偵探研究。該儀器配備了高精度的樣品室,為從精細編織織物到易碎生物材料的樣品提供了穩定而堅固的安裝。同時,它的大型250 mm目標樣本量可容納各種不同樣本量。該顯微鏡具有先進的野外發射槍高分辨率成像性能,非常適合缺陷分析、納米結構成像、納米技術等研究。這種增強的成像分辨率得到實時彈道電子的支持,以便即使在成像一個微妙的樣品時也能固定一個銳利的圖像。再者,交互式數字手動掃描模式允許用戶根據需要調整掃描參數。FEI FIB 200與強大的能量色散光譜(EDS)系統集成在一起,提供樣品元素組成的分析。它與超分辨率鏡頭兼容,讓用戶即使在高度敏感的樣品中也能進一步推動分辨率極限。此SEM對用戶友好且符合人體工程學。圖像控制站和大而直觀的控制墊等功能使樣品成像和操作更方便用戶。PHILIPS FIB-200用途廣泛,用戶只需一臺儀器即可執行各種任務。其卓越的成像分辨率和直觀的界面使其成為各種研究的理想工具。
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