二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293595359 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293595359
Focused Ion Beam (FIB) system With magnum column (3) GIS Units PC.
PHILIPS/FEI FIB 200是一種掃描電子顯微鏡,結合了場發射電子光學、聚焦離子束(FIB)技術和先進的分析。此功能強大的工具旨在為操作員提供全面的映像和分析功能。FEI FIB 200的主要部件是革命性的雙探測器系統。這由一個提供快速地形分析的環形暗場(ADF)探測器和一個反向散射電子(BSE)探測器組成,可以識別不同的化學成分。飛利浦FIB-200的ADF檢測器允許極高分辨率成像。這種強大的成像能力可產生3納米的最大分辨率,提供高度詳細的圖像。除了令人印象深刻的成像能力外,FEI FIB-200還配備了精確離子束發生器。這提供了更高的制造精度,使集成系統能夠產生高質量的橫截面圖像,以及具有無與倫比的精度的高分辨率三維曲面重建。FIB-200還包括一個集成的FIB-SEM端口,該端口允許與FIB系統進行無縫連接,用於高分辨率成像、原子探針斷層掃描和其他高級分析。此特性顯著增加了系統的多功能性,因為可以直接操縱各種樣本結構。PHILIPS/FEI FIB-200最令人印象深刻的功能之一就是其高級軟件。此軟件套件提供了多種功能強大的工具,包括自動生成圖像序列、自動檢查復制的樣本以及交互式3 D數據分析。FIB 200為即使是最復雜的樣品的成像和分析提供了完美的解決方案。這種掃描電子顯微鏡結合了場發射電子光學、聚焦離子束技術和先進的數據分析,是任何實驗室必不可少的工具。
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