二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293648640 待售

ID: 293648640
Focused Ion Beam (FIB) system Pre-lens system.
PHILIPS/FEI FIB 200掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強大的成像和分析工具。該顯微鏡利用場發射槍(FEG)來達到電子向樣品的最佳轉移。與傳統的TEM/SEM顯微鏡相比,FEI FIB 200可實現更高分辨率的成像、更好的景深和更高效的操作。該儀器具有可擴展的放大範圍從五千到十萬倍和低噪音,具有極好的能量分辨率高達0.2 eV。這部分是由於長度為200 mm的大型Cs場鏡頭,確保了最佳的圖像傳輸和檢測。低真空條件(<0.04 Pa)允許用戶對細膩的樣品進行成像,最大限度地減少樣品損壞。SEM還有一個聚焦穩定傳感(FSS)系統,可以延長觀測時間。飛利浦FIB-200配備高精度舞臺,確保最佳樣品定位。此級能夠在所有方向上移動最多100毫米的距離,並旋轉最多± 40°。此外,該階段能夠在單個會話中執行堆叠的多點掃描,並具有V形網格和各種標準掃描附件。這種分析儀器有一系列的分析應用,其中一些包括能量色散X射線光譜(EDX)、二次電子成像(SEI)和透射電子成像(TEM)。它還具有在脈沖計數模式下收集眾多高分辨率圖像的能力,從而可以更準確地收集數據。FIB-200用戶可以從其內置的自動化硬件和軟件中受益,這大大縮短了安裝時間,並可以探索儀器必須提供的額外功能,例如其常規電子束光刻功能。PHILIPS/FEI FIB-200 SEM是一種功能強大的分析和成像工具,提供一系列可靠的特性和功能。它在對有機和無機樣品進行分析測量方面非常有效。它的高性能以及眾多的自動化應用,使得這款儀器成為尋求可靠高效SEM的用戶的最佳選擇。
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