二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293676195 待售

PHILIPS/FEI FIB 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），是納米級成像的強大平臺。它具有出色的分辨率和對比度,並提供一系列增強的數據分析應用程序。FEI FIB 200利用聚焦離子束（FIB）去除樣品的小區域，然後用電子束掃描暴露區域，觀察樣品的細節。此過程將SEM的成像功能與高級樣品處理相結合。飛利浦FIB-200具有多種特性，使其成為研究和工業應用的絕佳選擇。這臺顯微鏡的掃描範圍為8nm至50 μ m，總體放大倍率範圍為5 x至500 x，可變光斑大小為1nm至100 nm。憑借其精確的定位階段，科學家可以輕松導航到任何感興趣的領域。PHILIPS/FEI FIB-200內置的SuperTwin E-Beam技術還提供卓越的圖像質量。此功能可產生具有出色對比度的高質量圖像。此外,FEI FIB-200可用於獲取使用高級3D重建工具建模3 D結構所需的數據,該工具提供了高效的工作流。FIB 200還提供了獨特的STEM（掃描透射電子顯微鏡）成像選項。STEM選項允許研究人員獲得納米尺度結構的高分辨率圖像。它還提供了一系列數據采集選項,例如高速成像,以提供更具互動性的成像體驗。PHILIPS FIB 200具有一系列其他功能,使其成為多種類型研究的理想選擇。它設計為用戶友好,提供直觀的導航、操作和數字成像。它還提供高級分析功能,例如特征識別和測量工具,使用戶能夠快速解釋其數據。最後,FIB-200擁有一系列能夠進行強大數據分析的軟件。其強大的InSpect軟件允許用戶分析和量化他們的數據，以及識別他們標本的重要結構特征。此外,它的EZSpect+軟件提供簡單的工作流,使用戶能夠在執行高級分析時節省時間。總體而言,PHILIPS/FEI FIB 200是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,可提供高級成像和分析功能。它是一系列納米級研究應用的理想選擇，設計方便用戶且易於操作。它提供了出色的圖像分辨率、對比度和準確性,以及增強的分析工具和強大的軟件。