二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293756948 待售

PHILIPS/FEI FIB 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米級成像和材料分析。它能夠捕獲10 nm或以下分辨率的高分辨率圖像和樣品輪廓。FEI FIB 200具有強大的場發射槍（FEG），具有電子納米光刻能力。該柱配有靜電四極一次能量濾波器，以進一步最大化分辨率，而可伸縮二次濾波器則保證無汙染成像。有多種柱內探測器，包括反向散射電子（BSE）探測器、熒光X射線探測器、二次電子（SE）探測器和氣態二次電子（GSE）探測器。PHILIPS FIB-200具有高分辨率的樣本級，可容納200毫米大小的樣本級，以及廣泛選擇的自動化樣本架，提供快速、方便的轉換。封閉式氣體註入系統（GIS）允許通過濺射、電拋光和離子束處理沈積金屬層。這種多功能性使研究者能夠以最小的努力對樣本進行模式化、表征和修改。PHILIPS FIB 200可以作為常規SEM操作，也可以作為全方位氣體註入顯微鏡（OMIG）操作，能夠對樣品進行現場觀察和微處理。它還配備了電子束光刻（EBL），以提供精確的二維圖樣應用。除了FIB 200之外，FEI還提供了一系列模塊化配件，可以添加到顯微鏡中，用於更專業的應用。這包括提供實時視頻廣播的數字視頻系統，用於絕緣體表面分析的掃描離子微波束系統，以及用於多軸級運動的自動級控制器。PHILIPS/FEI FIB-200是納米級成像和材料納米加工的最佳選擇。它結合了高性能組件、廣泛選擇的自動化樣品持有者和附件以及全方位操作，使其成為納米技術研究的有力工具。