二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #9298847 待售

PHILIPS/FEI FIB 200是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀察和研究微觀和納米樣品。這種特殊的電子顯微鏡用於材料科學、工業金相和生命科學領域的高分辨率成像和材料分析。FEI FIB 200配備了環境視圖，使其能夠在非真空條件和多種液態和氣態條件下觀察樣品。這意味著顯微鏡可以用來分析樣品，而不必在樣品周圍保持真空。掃描電子顯微鏡具有高分辨率電子探測器，能夠檢測能量分辨率為0.01 eV的電子。這很重要，因為它可以以足夠高的分辨率測量電子，以檢測圖像的最小特征。飛利浦FIB-200還配備了二次電子探測器。這一點很重要，因為它允許顯微鏡檢測電子束撞擊樣品表面時產生的二次電子。這對於研究樣品的表面特性和生成高分辨率圖像很有用。PHILIPS FIB 200還具有超高真空系統，允許在受控的環境中對樣品進行研究。這一點很重要，因為它最大限度地減少了樣品的汙染，避免了空氣中其他氣體對樣品造成的損害。電子顯微鏡有兩個互補的照明系統。首先是場輔助照明系統，利用從樣品上散射出來的反射電子產生樣品的明亮圖像。二是二次電子模式，通過檢測電子束撞擊樣品時產生的二次電子，生成樣品表面的明亮圖像。最後,PHILIPS/FEI FIB-200具有高分辨率數碼相機,可用於生成樣品的數碼圖像。此外，顯微鏡還配備了允許對樣品進行3D重建的軟件。這對於創建可用於分析和可視化示例的三維模型非常有用。