二手 PHILIPS / FEI FIB 820 #9137621 待售
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已售出
ID: 9137621
晶圓大小: 8"
優質的: 1995
Dual beam FIB, 8"
Chamber:
8" High vacuum
TMP Pumping system
Manual loading type loader
(5) Axis motorized stages
Chamber CCD camera
Electron gun:
XL30 FEG column
Type: Se-cathode
Multiple hole aperture
SE Detector
(2) Ion pump
Ion gun:
LMIS Ga ion gun
(1) Ion pump
Gas gun: Enhanced etch gun
Depo gun: PT Deposition gun
Control PC:
Maxpro 1000 system
Windows NT
Control rack:
HTSU
Power supply: 30KV Electron gun
Power rack:
Electron gun IGP controller
Ion gun IGP controller
Stage control PCB and power
ETC:
Power supply: 30KV Ion gun
Extenernal TMP controller
Missing parts:
Wafer holder
Stage control power supply
Vacuum pump
Control pad
Trackball
1995 vintage.
PHILIPS/FEI FIB 820掃描電子顯微鏡（SEM）是在物理、化學、材料科學、地質學、生物學等領域研究的多用途、功能強大的成像工具。它提供5 nm的最大分辨率、2D/3D成像功能、開放式平面圖,以及大量的探測器、放大倍率、氣體環境和舞臺配置。FEI FIB 820的大型開放式平面圖，方便樣品定位和拆卸，所有真空連接、電子等部件都位於直接工作區之外。掃描平臺設計用於各種樣品，包括金屬和電子產品的小塊、生物樣品、材料的小顆粒等等。PHILIPS FIB-820具有全面的電子光學功能,放大倍數範圍從20倍到300,000倍。它擁有多種探測器，提供高對比度、分辨率和信噪比的圖像。其中包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、二次離子探測器和X射線探測器等。高級映像軟件具有許多優點,包括高級映像采集和操作功能。PHILIPS FIB 820還具有許多在氣體環境中創建樣品高分辨率圖像的選項。通過控制氣體壓力和流量，用戶可以達到高達10-10 Torr的真空水平，非常適合無機樣品成像。氣室還能夠進行大氣控制，允許各種氣體環境，包括低溫真空、超高真空和超低真空。PHILIPS/FEI FIB-820是納米技術、生物成像、材料科學等應用的理想工具。它的開放式平面圖、先進的成像選項和廣泛的探測器使其成為希望提高成像能力的研究人員的理想工具。這款功能強大的SEM提供了出色的成像功能、廣泛的操作範圍和全面的組件,以滿足大多數研究人員的需求。
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