二手 PHILIPS / FEI FIB #9358460 待售

PHILIPS/FEI FIB（聚焦離子束）掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的儀器，用於生成生物和其他樣品的納米級圖像。對硬質和軟質材料的納米級成像進行了優化，可以獲得具有自然和人工對比度的極高分辨率圖像。FEI FIB通過在同一儀器中同時結合聚焦離子束（PHILIPS FIB）和掃描電子束（SEM）來運作，使研究人員能夠利用FIB操縱樣品並生成高分辨率圖像，然後用SEM查看這些圖像。PHILIPS/FEI FIB具有離子掃描柱，用於控制樣品中離子束的深度。這一列可以被操縱來集中在不同層次的樣本上，讓研究人員獲取分辨率小至0.5nm的圖像。此外，FEI FIB柱設有專用系統，用於控制離子束的角度、能量和速度，允許對樣品進行精確的操縱和成像。飛利浦FIB用於生成具有單色和多色對比度的納米級圖像。單色成像利用單個電子能量產生對比度最大的圖像。在多色成像過程中，可以使用多個電子能量，在圖像中提供更多的深度信息，並讓研究人員調查更廣泛的樣品。此外,還對FIB進行了優化,將實時樣品成像與其它微觀儀器的通信結合起來.PHILIPS/FEI FIB也可用於各種高分辨率斷層掃描技術。這些技術讓研究人員可以在三個維度上觀察樣本，提供比傳統二維圖像更詳細的信息。層析成像技術，如聚焦離子束層析成像（FEI FIB-TEM）是用來測量一個樣品的結構和內部特性，通過成像它在一個角度範圍。簡而言之，飛利浦FIB是納米級成像和分析的寶貴工具。它結合了聚焦的離子束柱和掃描電子顯微鏡，對離子束的精確控制，以及強大的層析成像技術，可以在非常小的範圍內為研究人員提供大量關於樣品的信息。