二手 PHILIPS / FEI Gun unit for Tecnai F30 #293669732 待售

ID: 293669732
Transmission Electron Microscope (TEM) Rack HAADF.
Tecnai F30掃描電子顯微鏡的FEI Gun單元是一種超高真空陰極單元,由多個組件組成,可以提高電子束穩定性。該槍組件由一個熱電子陰極、燈絲、陽極、加速電極和柵極、絕緣體、樣品制備支架和槍單元本身組成。熱電子陰極由氧化物塗層鎢材制成,裝在焊接的不銹鋼組件中。它負責產生照亮樣品所需的電子。這些電子是在加熱的鎢材料暴露於高真空壓力下產生的。該燈絲用於加熱陰極,並為電子束的產生做好準備。它使用特別設計的使用外部電路穩定的燈絲電流。加速度電極位於熱電子陰極和樣品之間。將電子從低壓加速到適合分析樣品的高壓。陽極又稱集電極,是位於陰極對面的帶正電板。它收集產生的電子,用於為束電流測量提供參考。柵格又稱Wehnelt圓柱體,用於控制電子束的形狀。用於保證樣品表面的光照均勻。該槍單元被設計為超高真空(UHV)環境,其中槍內的所有部件都被隔離,以防止樣品受到汙染。絕緣體用於在陽極和陰極之間以及其他系統組件之間提供電絕緣。它們由特氟龍(Teflon)或卡普頓(Kapton)等電穩定材料制成。樣品制備支架由彈簧加載機構組成,用於將樣品安裝在電子束中。最後,火炮裝置本身包括電源和用於成像和其他標本觀測的額外電子光學器件。結合起來,這些組分協同工作,產生一個穩定的電子束,適合掃描電子顯微鏡分析樣品。該槍單元能夠產生各種光束電流水平和電壓設置。這允許用戶以最高的成像質量對樣品表面進行詳細分析。
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