二手 PHILIPS / FEI Inspect-F #9261821 待售

PHILIPS/FEI Inspect-F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供一系列工業、科學和學術用途的分析能力。此顯微鏡是對前幾代SEM的重大升級,提供了更高的分辨率和成像能力。FEI Inspect-F是一款先進的掃描電子顯微鏡，配有專利設計，產生低振動、高分辨率成像和先進的分析能力。它利用強大的渦輪泵浦真空系統進行廣泛的成像和分析技術，包括二次電子、反向散射電子和X射線微分析。該系統適合從小截面到大結構的大小不一的樣品。先進的電子光學配備了智能自動對焦系統，快速精確地聚焦電子束，生成高分辨率圖像。光學器件被設計為最大限度地提高吞吐量和減少掃描時間，同時也允許完整的動態圖像優化。大腔室的大小提供了充足的訪問樣品方便操作和導航。PHILIPS Inspect-F還具有多種復雜的儀器,可為各種分析過程提供一系列用戶可配置的選項。它可以配備環形暗場（ADF）成像和能量色散X射線微分析（EDX）能力。該儀器包括大量的專用和可互換探測器集合，包括電磁能量濾波器（EIEF）、能量色散光譜（EDS）和電子能量損失光譜（AES）。Inspect-F的可靠操作還允許進行各種各樣的額外分析，如X射線點分析（XPA）、光電子光譜（XPS）、粒子誘導X射線發射（PIXE）和陰極發光。樣品室是溫度控制一致的成像條件，確保可靠的結果分析任何類型的樣品。總體而言,PHILIPS/FEI Inspect-F是一款高級掃描電子顯微鏡,具有廣泛的分析功能、無與倫比的分辨率和卓越的性能。它的計算能力和儀器使其成為工業、學術和科學應用的完美工具。